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了解预测和量化纳米粒度和Zeta电位分析仪的稳定性

更新时间:2017-07-11      点击次数:1790
   了解预测和量化纳米粒度和Zeta电位分析仪的稳定性
  
  点测量扫描,用于测试等电点、配方稳定性和胶体系统的均匀性,获取体系真正的Zeta电位信息。了解、预测和量化产品的稳定性。
  
  通过单次测试即可在整个动态范围内获取更多的样品信息,节省时间。
  
  深入研究获取的数据,可提高产率,优化流程,开发潜能。
  
  更高的灵敏度,提高了原始数据的质量和结果的性。
  
  采用雪崩光电二极管(APD),可提供高灵敏度的检测,可对少量的和极稀的样品进行检测,帮助用户进行有效的小体积分析。
  
  可生成用户可定制的3D图形以监测样品变化、进行样品批次对比及观察pH值对样品的影响,便于使用获得数据改善工艺流程。
  
  保护数据的完整性、确保重复性和度,获得高可信度的结果
  
  多点电泳迁移率检测,消除EOF效应。
  
  智能SOP(标准操作程序)设计,预置液体分散性质。可有效的减少方法开发/调整的耗时。
  
  宽广的温度控制范围,可有效的蛋白质和生物样品的完整性及生物活性。特殊设计的分析样品池配备平行电极,可消除对蛋白质以及生物材料的热损伤。

地址:北京市昌平区西三旗建材城西路新龙大厦A座2010室

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