本文介绍了用于原位纳米粒度分析的远程光纤探头技术VASCO Kin^TM。由法国技术公司（CORDOUAN Technologies）开发的VASCO Kin^TM是一款功能的纳米粒度分析仪，它利用的单模光纤技术将DLS测量导入到你的过程监控。创新的光纤远程探头(下文介绍其原理)使VASCO Kin能够非常简单地结合到你现有的实验装置上(如合成反应器或小角X光散射SAXS系统)，给用户提供了大的测量灵活性，以监测和改进其工艺过程的颗粒粒度随时间或反应条件的变化。